Journal of Applied Crystallography· 2013Q1
Düşük arka plan yoğunluklu odaklama küçük açılı X-ışını saçılımı undülatör ışın hattı
A low-background-intensity focusing small-angle X-ray scattering undulator beamline
- 530atıf
- Q1SCImago
- 2013yıl
Kısa özet
Avustralya Sinkrotronu'ndaki yeni bir undülatör X-ışını saçılımı ışın hattı, enstrüman arka planını en aza indirir ve zayıf saçılan numunelerin doğru analizini sağlar.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Ana noktalar
- Avustralya Sinkrotronu'ndaki SAXS/WAXS ışın hattı, enstrüman arka planını en aza indirir ve zayıf saçılan numunelerin analizini sağlar.
- Otomatik kararlı optikler ve üç yarık kolimasyon sistemi temel özelliklerdir.
- Işın izleme ve doğrusal projeksiyonlar doğrudan ışın ve arka plan saçılım geometrisini tanımlar.
- Arka plan yoğunluk sınırları, koruyucu yarık kenarları için 11 keV'de nicelleştirildi.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Özet (abstract)
The SAXS/WAXS beamline at the Australian Synchrotron is an advanced and flexible undulator X-ray scattering beamline used for small- and wide-angle X-ray scattering analysis on a wide variety of solids, fluids and surfaces across a diverse range of research and development fields. The beamline has numerous features that minimize the intensity of the instrument background, provide automated stable optics, and allow accurate analysis of very weakly scattering samples. The geometric and intensity requirements of a three-slit collimation system are described in detail for conventional metal and single-crystal germanium slits. Straightforward ray tracing and simple linear projections describe the observed direct beam as well as parasitic background scattering geometry of the beamline at its longest camera length, providing a methodology for the design and operation of similar beamlines. As an aid to instrument design, the limit of background intensity determined by the intensity incident on single-crystal germanium guard slit edges and its q dependence was quantified at 11 keV. Details of the beamline's implementation, underlying optical concept and measured performance are given.
Yazarların özeti; kaynağından alınmıştır. Journal of Applied Crystallography, 2013 · DOI ↗
Ücretsiz hesapla devam et
Makaleye Sor ile bu makaleye günde 3 soru ücretsiz; makaleyi kaydet, kaynakçasını al, ilgi alanına göre her gün yeni özetler. Çıkarımlar Premium.
Web'de ücretsiz devam etGoogle ya da Apple hesabınla giriş; kart istemez. Bu makaleye geri dönersin.
Telefonda:
Alan: Radyasyon
RadiationPhysics and Astronomy