Scientific Reports· 2015Q1
Yumuşak X-ışını AP-XPS ile Katı-Sıvı Arayüzeylerinin Doğrudan İncelenmesi
Using “Tender” X-ray Ambient Pressure X-Ray Photoelectron Spectroscopy as A Direct Probe of Solid-Liquid Interface
- 369atıf
- Q1SCImago
- 2015yıl
Kısa özet
Yeni bir ortam basıncı X-ışını fotoelektron spektroskopisi (AP-XPS) yöntemi, "yumuşak" bir X-ışını kaynağı (2-7 keV) ve "daldır & çek" tekniği kullanarak elektrokimyasal sistemlerdeki katı-sıvı arayüzeylerinin doğrudan in situ gözlemlenmesini sağlar.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
ÇıkarımlarUygulamada
Ana noktalarUygulamada
Makaleye SorUygulamada
Devamı Pofolia uygulamasında
Çıkarımlar, ana noktalar ve makaleye soru sorma; ilgi alanına göre her gün yeni özetler. Ücretsiz.
Web'de giriş yaparak açAlan: Elektrokimya
ElectrochemistryChemistry