IEEE Transactions on Reliability· 2013Q1
Ölçüm Hatalarıyla Wiener Süreçleri Kullanılarak Bozunma Verilerinin Analizi
Degradation Data Analysis Using Wiener Processes With Measurement Errors
- 364atıf
- Q1SCImago
- 2013yıl
Kısa özet
Ölçüm hatalarını içeren yeni bir karma etkili model, sistem bozunma analizi için Wiener süreçlerinin tahmin verimliliğini artırarak geleneksel yöntemlerden daha iyi performans gösterir.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Ana noktalar
- Ölçüm hatalarıyla bozunma verilerini analiz etmek için karma etkili bir Wiener süreci modeli sunar.
- Geleneksel Wiener süreci çıkarım yöntemlerine göre tahmin verimliliğini artırır.
- Model, bir popülasyon içindeki heterojenliği hesaba katabilir.
- HDD manyetik kafa aşınması ve LED ışık yoğunluğu bozunması problemlerine uygulanabilirliği gösterilmiştir.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Özet (abstract)
Degradation signals that reflect a system's health state are important for diagnostics and health management of complex systems. However, degradation signals are often compounded and contaminated by measurement errors, making data analysis a difficult task. Motivated by the wear problem of magnetic heads used in hard disk drives (HDDs), this paper investigates Wiener processes with measurement errors. We explore the traditional Wiener process with positive drifts compounded with i.i.d. Gaussian noises, and improve its estimation efficiency compared with the existing inference procedure. Furthermore, to capture the possible heterogeneity in a population, we develop a mixed effects model with measurement errors. Statistical inferences of this model are discussed. The mixed effects model subsumes several existing Wiener processes as its limiting cases, and thus it is useful for suggesting an appropriate Wiener process model for a specific dataset. The developed methodologies are then applied to the wear problem of magnetic heads of HDDs, and a light intensity degradation problem of light-emitting diodes.
Yazarların özeti; kaynağından alınmıştır. IEEE Transactions on Reliability, 2013 · DOI ↗
Ücretsiz hesapla devam et
Makaleye Sor ile bu makaleye günde 3 soru ücretsiz; makaleyi kaydet, kaynakçasını al, ilgi alanına göre her gün yeni özetler. Çıkarımlar Premium.
Web'de ücretsiz devam etGoogle ya da Apple hesabınla giriş; kart istemez. Bu makaleye geri dönersin.
Telefonda:
Alan: Güvenlik, Risk, Güvenilirlik ve Kalite
Safety, Risk, Reliability and QualityEngineering