Scientific Reports· 2026Q1
Doğrusal Analog Devrelerde Çoklu Yumuşak Hata Teşhisi İçin Gradyansız Yöntem
Gradient-free method for multiple soft-fault diagnosis in linear analog circuits
- 0atıf
- Q1SCImago
- 2026yıl
Kısa özet
Yeni bir gradyansız yöntem, zaman alanında birden fazla yumuşak hatayı teşhis etmek için şişirme (deflation) ve Nelder-Mead algoritmasını birleştirerek zaman alanında duyarlılık analizlerine gerek kalmadan çalışır.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Ana noktalar
- Doğrusal analog devrelerde çoklu yumuşak hata teşhisi için gradyansız bir yöntem önerilmektedir.
- Arızalı bileşen kümelerini ve parametre değerlerini belirlemek için şişirme (deflation) ve Nelder-Mead algoritması birleştirilmiştir.
- Çoklu hata belirleme prosedürleri için tipik olarak gereken zaman alanında duyarlılık analizlerinden kaçınılır.
- Çok sayıda simülasyon ve laboratuvar testi ile doğrulanmıştır.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Özet (abstract)
Abstract Fault diagnosis is essential in various engineering fields, including mechanical, electrical, and military systems. Analog circuits are fundamental components of nearly every engineering solution. A well-designed diagnostic process can enhance equipment performance, reduce the risk of failure, shorten service times, and ensure safe operation. The paper concerns soft-fault diagnosis in analog electronic circuits. It proposes an original method for identifying multiple faults in the time domain. The approach avoids the time-consuming sensitivity analyses typically required by multiple fault identification procedures. Combining the concept of deflation with the Nelder-Mead algorithm enables the identification of distinct sets of components, as well as multiple parameter values within each set that meet the diagnostic test. Numerous simulations and laboratory tests confirm the method’s effectiveness. The paper includes representative results of these tests. The technique, after modification, can also be used to diagnose nonlinear circuits and can act as an auxiliary tool in circuit synthesis and design for testability.
Yazarların özeti; kaynağından alınmıştır. Scientific Reports, 2026 · DOI ↗
Ücretsiz hesapla devam et
Makaleye Sor ile bu makaleye günde 3 soru ücretsiz; makaleyi kaydet, kaynakçasını al, ilgi alanına göre her gün yeni özetler. Çıkarımlar Premium.
Web'de ücretsiz devam etGoogle ya da Apple hesabınla giriş; kart istemez. Bu makaleye geri dönersin.
Telefonda:
Alan: Donanım ve Mimari
Hardware and ArchitectureComputer Science