Ain Shams Engineering Journal· 2026Q1
Yüksek Doğruluklu Analog Devre Arıza Teşhisi için Hibrit Satin Bowerbird–Egret Swarm Optimizasyon Güdümlü İteratif Zamansal CNN
Hybrid Satin Bowerbird–Egret Swarm optimization driven iterative temporal CNN for high-accuracy analog circuit fault diagnosis
- 0atıf
- Q1SCImago
- 2026yıl
Kısa özet
Yeni bir hibrit derin öğrenme çerçevesi (SbEO-ITCNN), Satin Bowerbird ve Egret Swarm algoritmasının hibrit bir optimizasyonu ile optimize edilmiş İteratif Zamansal Evrişimsel Sinir Ağı kullanarak analog devre arıza teşhisinde yüksek doğruluk (99.62%'e kadar) elde etmektedir.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Ana noktalar
- Analog devre arıza teşhisi için hibrit bir derin öğrenme çerçevesi (SbEO-ITCNN) önerilmiştir.
- Çoklu çözünürlüklü özellik çıkarma için Sarmalanmış Ayrık Dalgacık Dönüşümü kullanılmıştır.
- İteratif Zamansal Evrişimsel Sinir Ağı (ITCNN), zamansal özellik öğrenmesini iyileştirir.
- ITCNN hiperparametrelerini ayarlamak için hibrit bir Satin Bowerbird Optimizasyonu (SBO) ve Egret Swarm Optimizasyonu (ESO) algoritması kullanılmıştır.
- Deneysel sonuçlar, test edilen analog devrelerde yüksek sınıflandırma doğrulukları (%99.62'ye kadar) göstermektedir.
Yapay zekâ ile başlık ve abstract'tan üretildi; tam metin okunmaz.
Özet (abstract)
Diagnosing analog circuit faults is essential to maintaining the stability and dependability of contemporary electronic systems. This paper proposes a novel hybrid deep learning framework, termed SbEO-ITCNN, which integrates Satin Bowerbird Optimization (SBO) and Egret Swarm Optimization (ESO) for efficient hyperparameter tuning of an Iterative Temporal Convolutional Neural Network (ITCNN). Initially, Wrapped Discrete Wavelet Transform (W-DWT) is employed to extract multi-resolution time–frequency features, effectively reducing noise and feature redundancy. The extracted features are then classified using ITCNN, which enhances temporal feature learning and improves classification performance. To further optimize the model, the proposed SbEO algorithm balances exploration and exploitation for robust parameter tuning. The proposed method is validated on multiple analog circuits, including Sallen–Key band-pass, Leapfrog, Butterworth low-pass, and Biquad high-pass filters. Experimental results demonstrate superior performance, achieving classification accuracies of 99.62 %, 99.21 %, 99.41 %, and 99.36 %, respectively, along with reduced computational time compared to existing techniques.
Yazarların özeti; kaynağından alınmıştır. Ain Shams Engineering Journal, 2026 · DOI ↗
Ücretsiz hesapla devam et
Makaleye Sor ile bu makaleye günde 3 soru ücretsiz; makaleyi kaydet, kaynakçasını al, ilgi alanına göre her gün yeni özetler. Çıkarımlar Premium.
Web'de ücretsiz devam etGoogle ya da Apple hesabınla giriş; kart istemez. Bu makaleye geri dönersin.
Telefonda:
Alan: Donanım ve Mimari
Hardware and ArchitectureComputer Science